 |
De hoge Huidige Baksteen1025fa 10.2x3.2mm Oppervlakte zet SMD-Zekering 300V 250V 125V 72V op
Productdetails:
| Plaats van herkomst: | Dongguan, Guangdong, China |
| Merknaam: | AMPFORT |
| Certificering: | UL,cUL,RoHS |
| Modelnummer: | 1032F |
Betalen & Verzenden Algemene voorwaarden:
| Min. bestelaantal: | 2000 PCs |
|---|---|
| Prijs: | To be advised |
| Verpakking Details: | Spoel, 2K per broodje |
| Levertijd: | 7-10 werkdagen |
| Betalingscondities: | T/T, Western Union, MoneyGram, Bank T/T |
| Levering vermogen: | 10.000.000 stuks per maand |
|
Gedetailleerde informatie |
|||
| Productnaam: | De hoge Huidige Baksteen1025fa 10.2x3.2mm Oppervlakte zet SMD-Zekering op | GROOTTE: | 1025 (10.2x3.2mm) |
|---|---|---|---|
| Zekeringssnelheid: | Snelle Slag | Ampèrewaaier: | 200mA ~ 50A |
| Norm: | UL 248-14 | Assortiment: | Baksteen1025fa Reeks |
Productomschrijving
De hoge Huidige Baksteen1025fa 10.2x3.2mm Oppervlakte zet SMD-Zekering 300V 250V 125V 72V op
De eigenschappen van de Hoge Huidige Baksteen1025fa 10.2x3.2mm Oppervlakte zetten SMD-Zekering op
• Fast-acting oppervlakte-onderstel zekering
• Voldoet aan de EIA/IS-722-Norm
• Het compatibele systeem van de soldeerselonderdompeling
• Golfonderdompeling: 260°C, 10 Seconden. max.
• Infrarode terugvloeiing: 260°C, 30 Seconden. maximum
De beschrijving van de Hoge Huidige Baksteen1025fa 10.2x3.2mm Oppervlakte zet SMD-Zekering op
Ampfort introduceert 1032/1245 die reeks high-current, fast-acting, oppervlakte-onderstel (SMD) zekeringen voor de machtsvereisten worden ontworpen van de volgende generatie telecommunicatie en gegevensverwerkingssystemen. De compacte voetafdruk van de 1025HC-reeks staat ontwikkelaars toe om minder ruimte van de kringsraad met een hogere huidige classificatie, hoger voltageclassificatie, en betere prestaties te gebruiken. De verhoogde huidige geregelde tijd (I2t) classificaties in 1025HC zijn ideaal voor machtssystemen die in volgende generatieserver en bureaucomputers, gokkenconsoles, industriële en van de consument elektronika, opslagsystemen, basisstations, testmateriaal, en LEIDENE verlichting worden gebruikt.
De milieugegevens van de Hoge Huidige Baksteen1025fa 10.2x3.2mm Oppervlakte zetten SMD-Zekering op
• Het levenstest: Mil-std-202, Methode 108A, Beproevingsomstandigheid D
• Ladingsvochtigheid: Mil-std-202, Methode 103B
• Vochtbestendigheid: Mil-std-202, Methode 106E
• Eindsterkte: Mil-std-202, Methode 211A
• Thermische schok: Mil-std-202, Methode 107D, airto-lucht
• Gevalweerstand: EIA/IS-722
• Weerstand tegen ontbinding van metallisering: ANSI j-std-002, Test D
• Mechanische schok: Mil-std-202, Methode 213B met uitzonderingen per EIA/IS-722-Norm
• Hoge frequentietrilling: Mil-std-202, Methode 204D, Beproevingsomstandigheid D
• Weerstand tegen oplosmiddelen: Mil-std-202, Methode 215A
De elektrokenmerken van de Hoge Huidige Baksteen1025fa 10.2x3.2mm Oppervlakte zetten SMD-Zekering op
Brekende Capaciteit: 200A@125V 250V 300V 500A@72V
|
% van Ampèreclassificatie (binnen) |
Het blazen Tijd |
| 100% * binnen | 4 uren Min |
| 200% * binnen | 120 Maximum seconden |
Opdracht gevend tot Informatie van de Hoge Huidige Baksteen1025fa 10.2x3.2mm Oppervlakte zet SMD-Zekering op
|
Catalogus Nr. |
Ampère Classificatie |
Voltage Classificatie |
Het breken Capaciteit |
Nominale Koude Weerstand (Ohms) |
I2TMelting Integraal (A2.S) |
Bureau Goedkeuring |
|
| UL | CUL | ||||||
| 1032F.2400 | 40A |
250V/AC/DC 125V/AC/DC 300VAC/DC 72V/DC |
500A@72V 200A@125V250V 200A@300V |
0,0012 | 1760 |
● |
● |
| 1032F.2500 | 50A | 0,0011 | 2020 |
● |
● |
||
De gemiddelde Tijd Huidige Krommen van de Hoge Huidige Baksteen1025fa 10.2x3.2mm Oppervlakte zetten SMD-Zekering op
De toepassingen van de Hoge Huidige Baksteen1025fa 10.2x3.2mm Oppervlakte zetten SMD-Zekering op
►Primaire en secundaire kringsbescherming:
►Server en Desktopvoedingen
►De systemen van de gokkenconsole
►De modules van de voltageregelgever (VRM)
►De macht van het opslagsysteem
►Primaire en secundaire (voortdurende) kringsbescherming:
►Basisstationvoedingen
►Basisvoedingen
►Leiden en algemene verlichting
►Testmateriaal